USPM-RU-W в олимпе может быть очень быстрым и очень точным для спектрометрии длины волн видимого и почти инфракрасного диапазона. Поскольку он может легко определить микроскопические области, отражающие поверхность, которые не могут определить обычные спектрофотометры, он может быть применим к таким продуктам, как оптические компоненты и микроскопические электронные компоненты.
Функция определения реальности
Различные спектрометрические измерения для коэффициента отражения, толщины мембраны, цвета объектов, через коэффициент прохода, угол падения 45 градусов.
◆ определен отражательн способн
Степень отражения, измеряемая крошечными точками, находящими под поверхностью объектива от 17 до 70 м.
◆ определен мембра толст
Данные об интенсивности отражения для жизни позволяют определить толщину мембраны в одной слое и многослойной мембране приблизительно 50 нм — 10 м.
Согласно данным коэффициента отражения, показаны графы XY, графы L*a*b и соответствующие значения.
Уровен ◆ определен через
Измеряется скорость прохожения образца через плоскость из-под стола через параллельный свет, проходящий под ним. отбор
◆ определен угол паден прожива 45 градус отражательн способн
Отражение от боковой поверхности в 45 градусов от поверхности света, находящемся под поверхностью 2мм, определяет степень отражения. отбор
Высокая точность и высокоскоростное определение домена
◆ достижен высокоскоростн определен
Используя плоские решётки и линейные сенсоры для одновременного и одновременного спектрометрического измерения, таким образом, для высокоскоростного измерения.
◆ распространя на определен крошечн компонент, линз отражательн способн
Новые разработаны специальные объективы, которые могут быть определены без контактных линз в области, находящущуренной на высоте от 17 до 70 метров. Обычные спектрофотометры, которые не могут быть определены мелкими электронными компонентами или изгиями линз, также могут быть реализованы высоковоспроизводительные измерения.
◆ определен отражательн способн, не нужн сзад противоотражательн
Для определения коэффициента отражения на тонком 0,2 мм (0,2 мм) будут использованы специальные объективы с кольцевым освещением, не требуя оборотной обработки на обратной стороне обнаруженного объекта.
◆ но метод мембра толст определен
Анализ толщины мембраны на одной или нескольких слоях, основываясь на данных об измерении светового отражения. Метод может быть определен по выбору использования.
